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高质量超薄切片:样品与切片刀自动对齐
超薄切片技术是获取样品切片的最常用方法。在室温条件制备时,将样品小块嵌入环氧树脂中,然后通过修剪去除多余的树脂,并使用玻璃刀或金刚石刀将样品切成厚度为50-100纳米之间的薄片。
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工业应用中倒置显微镜相较于正置显微镜的五大优势
使用倒置显微镜时,您需要从下方观察样本,因为倒置显微镜的光学元件位于样本下方,而使用正置显微镜时,您需要从上方观察样本。一直以来,倒置显微镜主要用于生命科学研究,因为重力将样本沉入含有水性溶液的托座底部,从上方则无法观察到太多内容。但近段时间以来,倒置显微镜在工业应用中也变得越来越流行。我们现在一起来了解倒置显微镜在工业应用中的优势。
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横截面切片法分析IC芯片的结构与化学成分
从本文中了解如何通过横截面分析法对集成电路 (IC) 芯片等电子元件进行有效的结构和元素分析。探索如何通过研磨系统进行铣削、锯切、磨削和抛光工艺以及用于同时进行目视检测和化学分析的二合一解决方案来完成的。可针对电子行业的各种工作流程和应用实现快速、详细的材料分析,包括竞争分析、质量控制 (QC)、故障分析 (FA) 以及研发 (R&D)。
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非聚焦离子束研磨制备高质量EBSD样品
背散射电子衍射技术(EBSD)能在样本表面上方数十纳米处生成电子衍射,因而它又称为一种“表面”技术。采用这种方法生成EBSD图案时,样本表面不会遭受任何损坏。本文中,我们介绍了使用EBSD高效抛光两个通过非聚焦离子束研磨制备的高难度样本的案例。
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How Marine Microorganism Analysis can be Improved with High-pressure Freezing
In this application example we showcase the use of EM-Sample preparation with high pressure freezing, freeze substiturion and ultramicrotomy for marine biology focusing on ultrastructural analysis of…
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低温光学显微镜的新成像工具
荧光显微镜图像能够为cryo-FIB加工提供定位支持,其质量决定了所制备薄片的结果。本文描述了LIGHTNING技术是如何显著提高图像质量,以及如何利用该技术基于荧光寿命的信息来辨别样品的不同结构。
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精确三维定位,实现EM成像——掌握精髓
低温电子断层扫描(CryoET)是一种成像技术,可以让研究人员以亚纳米分辨率观察蛋白质和其他大生物分子。了解分子的形状和结构,包括口袋和裂隙,可以帮助研究人员设计能够像拼图一样附着于分子的药物。低温ET成像也因此成为了解和治疗疾病和失调的重要基础。