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[Translate to chinese:] Optical microscope image of salt contamination on an aluminum/silicon (Al/Si) surface. Credit: Gerweck GmbH, Germany.

电镀技术中的微观缺陷

在本次网络研讨会上,将介绍激光诱导击穿光谱(LIBS)如何用于质量控制,以快速确定产品电镀过程中缺陷(污染)的根本原因。
Particle analysis with LIBS using the DM6 M LIBS 2-in-1 solution: Particle of brass, an alloy of copper (Cu) and zinc (Zn).

加速您的材料分析工作流程

药品(例如药物、液体和固体药丸/片剂、静脉注射/输液、滴眼剂和吸入器)中的颗粒污染物可能来自许多不同的来源。例如溶液、包装、密封件等存在的未溶解残留物。识别并消除药品中的这些污染物颗粒对于确保产品质量和患者安全至关重要。

包括成分分析在内的微观结构表征

Leica Microsystems的多功能正置复合显微镜DM6M配有激光诱导击穿光谱模块,不仅可以分析金相抛光样品,进行晶粒度分析和钢铁夹杂物评级,而且在同一系统上,同时获得关于小到20微米的化学成分的定性组成信息,而无需任何额外的样品制备并且无需将样品转移到电子显微镜。加入我们,看看这个系统的运作。
[Translate to chinese:] Printed Circuit Board (PCB)

进行微观尺度的元素分析

如果您从事电子元件分析工作,您熟悉将会面临的诸多挑战。无论您是识别金属颗粒还是检查产品真伪,快速、轻松地获取正确的信息都很重要。 在本次网络研讨会中,Konstantin Kartaschew 博士将解释如何使用化学微量分析仪 LIBS 系统获取有关微结构化学成分组成的信息。

在微米级别内简化和加速元件分析

学习如何在几秒钟内快速轻松地获得有关元素化学成分的相关信息。
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