Leica Microsystems: 显微镜科学与教学知识中心

显微镜科学与教学知识中心

徕卡显微系统的知识库提供有关显微镜学科的科学研究和教学材料。内容旨在对显微镜初学者、有经验的显微镜操作实践者和使用显微镜的科学家在他们的日常工作和实验有所帮助。这里有探索交互式教程和应用笔记，你可以找到你需要的显微镜的基础知识以及前沿技术——快来加入徕卡显微知识社区，分享您的专业知识！

钢材中非金属夹杂物评级标准相关的常见问题

向全球用户供应单批次钢材组件和产品时，产品需满足多种钢材质量标准。这些用户需求成为了摆在供应商面前的一道难题。由于夹杂物对钢材质量有显著影响，各种标准都对非金属夹杂物评级规定了严格的评级方法。钢材质量评级有助于确保产品和组件满足不同的性能和安全规格要求。然而，由于国际、区域和组织性的标准繁多，而且这些标准还会不断更新变化，因此单批次钢材组件/产品要满足多种钢材质量标准的要求是一项难度不小的挑战。为…

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分析钢铁中的非金属夹杂物

我们常常发现自己陷入了通过标线和比较图进行繁琐的分析，根据多个标准进行耗时的双重评估或来自不同用户的带有偏见的主观检查结果。在本次网络研讨会中，Nicol Ecke 博士将讨论使用 LAS X 钢铁专家自动分析非金属夹杂物的优势。了解这将如何帮助您比以往更快、更轻松地获得您想要的可靠、公正且符合标准的结果。

[Translate to chinese:] Printed Circuit Board (PCB)

进行微观尺度的元素分析

如果您从事电子元件分析工作，您熟悉将会面临的诸多挑战。无论您是识别金属颗粒还是检查产品真伪，快速、轻松地获取正确的信息都很重要。在本次网络研讨会中，Konstantin Kartaschew 博士将解释如何使用化学微量分析仪 LIBS 系统获取有关微结构化学成分组成的信息。

EM TIC 3X进行离子束刻蚀简介

在这篇文章中，您可以了解到如何通过使用EM TIC 3X离子束研磨仪的离子束蚀刻工艺来优化样品的制备质量。文中简介了EM TIC 3X仪器特性，以此解释如何灵活地将该设备应用于各类研究领域的样本制备工作中。本文将帮助读者了解离子束刻蚀工艺的基本原理，及其如何在各种应用中获得高分辨率的SEM图像。本文也将介绍EM TIC…

Computational Clearing - 增强3D标本成像

本次网络研讨会旨在阐明有助于THUNDER显微成像仪实现三维样品可视化的关键规格，并改进研究人员的成像相关工作流程。

钢材微结构的目视和化学分析：快速评定钢质量

本文介绍了使用结合光学显微镜和激光诱导击穿光谱仪（LIBS）的二合一解决方案对钢材非金属夹杂物（NMI）进行同步视觉和化学分析的方法。钢是一种在多行业广泛应用的材料。典型的应用领域包括交通（汽车、航空和铁路）、建筑和船舶建造以及能源（油气管道）。在部分高要求应用中，使用创新钢合金以及钢材回收再利用的普及度正在不断上升。钢材的质量主要取决于其成分和微结构（夹杂物、晶粒、沉淀物和其它相）。国际、区域和…

探索分离具有重叠光谱的荧光团的创新技术

在本文中，我们探讨了几种策略，您可以采取这些策略来改善荧光团的分离，并增加您可以在样本中区分的荧光探针数量。

STELLARIS白激光

在为多色实验选择荧光探针时，您无需做出妥协。现在，您可以超越传统激发源，摆脱在荧光团选择和多元成像能力方面的限制。STELLARIS新一代白激光（WLL）与我们提供的Power HyD系列检测器相结合，使您可自由选择所有光谱，并准确组合适当的探针来解答您的实验问题。白激光与我们自有的声光分束器（AOBS）相结合，可最多同时使用8条独立的扫描激光线。…