Leica Microsystems: 显微镜科学与教学知识中心

显微镜科学与教学知识中心

徕卡显微系统的知识库提供有关显微镜学科的科学研究和教学材料。内容旨在对显微镜初学者、有经验的显微镜操作实践者和使用显微镜的科学家在他们的日常工作和实验有所帮助。这里有探索交互式教程和应用笔记，你可以找到你需要的显微镜的基础知识以及前沿技术——快来加入徕卡显微知识社区，分享您的专业知识！

Exploring the Structure and Life Cycle of Viruses

The SARS-CoV-2 outbreak started in late December 2019 and has since reached a global pandemic, leading to a worldwide battle against COVID-19. The ever-evolving electron microscopy methods offer a…

Fast, High-quality Vitrification with the EM ICE High Pressure Freezer

The EM ICE High Pressure Freezer was developed with a unique freezing principle and uses only a single pressurization and cooling liquid: liquified nitrogen (LN2). This design enables three major…

使用增强功能电子显微镜研究大脑切片中的突触

神经科学的一个基本问题就是突触的结构与其功能特性之间有何关系？过去几十年，电生理学揭示了突触传递机制，而电子显微镜（EM）深入探索了突触形态。用于关联突触生理学和超微结构的方法可以追溯到20世纪中叶。目标是获得突触传递的快照，即捕获电子显微照片中的动态过程。

Advancing Cell Biology with Cryo-Correlative Microscopy

Correlative light and electron microscopy (CLEM) advances biological discoveries by merging different microscopes and imaging modalities to study systems in 4D. Combining fluorescence microscopy with…

High-pressure freezing: Revealing functional mechanisms of synaptic transmission

Learn more about applying optogenetic stimulation in the EM ICE and how this technology has the potential to reveal structural and functional mechanisms of synaptic transmission. Get a detailed…

Workflows and Instrumentation for Cryo-electron Microscopy

Cryo-electron microscopy is an increasingly popular modality to study the structures of macromolecular complexes and has enabled numerous new insights in cell biology. In recent years, cryo-electron…

EM TIC 3X进行离子束刻蚀简介

在这篇文章中，您可以了解到如何通过使用EM TIC 3X离子束研磨仪的离子束蚀刻工艺来优化样品的制备质量。文中简介了EM TIC 3X仪器特性，以此解释如何灵活地将该设备应用于各类研究领域的样本制备工作中。本文将帮助读者了解离子束刻蚀工艺的基本原理，及其如何在各种应用中获得高分辨率的SEM图像。本文也将介绍EM TIC…

研究天然聚合物精细细节的微观结构

本报告评估了结合使用冷冻宽幅离子束铣削和扫描电子显微镜（cryo-BIB-SEM）对低温稳定柔性聚合物的微观结构进行成像和分析的潜能。报告介绍了使用cryo-BIB-SEM对易损天然聚合物进行检查的结果，例如番茄果皮和木材，还分析了聚合物表面形态和多种微观结构特性。

超薄切片介绍

对样本开展研究时，为了以纳米级分辨率显示其精细结构，通常会使用到电子显微镜。电子显微镜有两种类型：扫描电子显微镜（SEM）用于对样本表面成像，以及需要使用极薄电子透明样本的透射电子显微镜（TEM）。因此，使用电子显微镜对样本内部的精细结构进行成像时，此类技术解决方案需要制作出非常薄的样本切片。被称为超显微技术的样本制备方法可以产生具有最小伪影的超薄切片（厚度20-150nm）。在切片过程中，样本的…