EM TIC 3X进行离子束刻蚀简介
在这篇文章中，您可以了解到如何通过使用EM TIC 3X离子束研磨仪的离子束蚀刻工艺来优化样品的制备质量。文中简介了EM TIC 3X仪器特性，以此解释如何灵活地将该设备应用于各类研究领域的样本制备工作中。本文将帮助读者了解离子束刻蚀工艺的基本原理，及其如何在各种应用中获得高分辨率的SEM图像。本文也将介绍EM TIC…
通过光遗传和电刺激技术研究纳米桥接结构和动力学
纳米级超微结构信息通常是由经固定和处理样品的静态图像获得的。但是，这些静态图像只是不断变化的动态结构中的一个瞬间。因此，如何探索动态过程中的特定时间点，是纳米级超微结构研究的一个重大挑战。通过光遗传或电刺激技术，并结合毫秒级样品玻璃化技术探索纳米级超微结构，是一种解决上述问题具有前景的技术。在本应用白皮书的第一部分中，我们将从实际应用角度讨论光刺激辅助的样品玻璃化工作流程。
Expanding the Limits of Electron Microscopy Sample Preparation
Capturing the intricate changes in fine structure or in cell dynamics with conventional cryo solutions can be challenging sometimes. Leica Microsystems has developed a new cryo platform, the Leica EM…
![[Translate to chinese:] Array tomography image of T-cells in mouse lymph nodes.](/fileadmin/_processed_/b/9/csm_T-cells_in_mouse_lymph_nodes_array_tomography_f17e5d2cef.jpg "[Translate to chinese:] Array tomography image of T-cells in mouse lymph nodes.")
带有全自动连续切片功能的高分辨率序列断层成像
本报告描述了利用全自动连续切片方案通过序列断层成像对高分辨率三维亚细胞结构分析进行优化，在基底上实现高切片密度。
页岩和碳酸盐岩的宏观至纳米级孔隙分析
页岩和碳酸盐岩等岩石的物理孔隙度对其储存能力有很大影响。孔隙的几何形状也会影响其渗透率。对可见孔隙空间进行成像，有助于了解物理孔隙空间、孔隙几何形状以及与储存和运输相关的矿物和有机物质阶段。
用显微镜观察结构——借助激光光谱了解结构成分
本报告介绍了使用光学显微镜和激光诱导击穿光谱(LIBS) 二合一材料分析解决方案进行同步视觉和化学检测的优势。报告还解释了二合一解决方案的基本工作原理，并将它与其它常用材料分析方法进行了对比，例如扫描电子显微镜…
非聚焦离子束研磨的实践应用
机械抛光不仅费时费力，而且还会产生伪影，干扰扫描电子显微镜（SEM）的电子背散射衍射（EBSD）结果或光学显微镜研究。相比之下，离子束研磨可以消除干扰数据分析和图像解读的伪影。
多孔陶瓷—SEM样本制备
徕卡EM RES102的使用说明 - 孔径小于几纳米的陶瓷膜过滤器必须在横截面上研究孔隙结构。最小的孔隙特别令人感兴趣。
纸张样品 - SEM样本制备
徕卡EM RES102的使用说明 - 为了测试该程序的适用性，已用离子束截面切割法制备了一个涂布纸样。利用离子束截面切割法，可制备纸张横截面。在该样品处理的基础上，可在扫描电子显微镜下显示热敏纸基本未受影响的原始结构。
