Leica Microsystems: 显微镜科学与教学知识中心

显微镜科学与教学知识中心

徕卡显微系统的知识库提供有关显微镜学科的科学研究和教学材料。内容旨在对显微镜初学者、有经验的显微镜操作实践者和使用显微镜的科学家在他们的日常工作和实验有所帮助。这里有探索交互式教程和应用笔记，你可以找到你需要的显微镜的基础知识以及前沿技术——快来加入徕卡显微知识社区，分享您的专业知识！

[Translate to chinese:] Images of the same area of a processed wafer taken with standard (left) and oblique (right) brightfield illumination using a Leica compound microscope. The defect on the wafer surface is clearly more visible with oblique illumination.

显微镜不同观察方法下的快速半导体检测

已刻蚀的晶圆和集成电路（IC）在生产过程中的半导体检测对于识别和减少缺陷非常重要。

EBSD grain size distribution of the cross section of a gold wire within a silicon matrix from inside a CPU (central processing unit of a computer). The grains are highlighted with arbitrary colors.

高质量EBSD样品制备

本文介绍了一种使用宽离子束研磨技术为“混合”晶体材料制备可靠且有效的EBSD（电子背散射衍射）样品的方法。该方法产生的横截面具有高质量表面，这对于EBSD分析至关重要。电子背散射衍射（EBSD）材料分析是通过扫描电子显微镜（SEM）进行的。制备混合材料（CPU或铝（Al）、金刚石和石墨（C）的复合材料）的横截面，使其具有适合EBSD分析的高质量表面，可能是一个挑战。

冷冻断裂和冷冻蚀刻是研究柔性膜相关结构（如紧密连接或肠道糖萼）的有用工具。冷冻断裂和冷冻蚀刻是两种互补的方法，通过样品玻璃化来保护目标结构，然后断开冷冻标本以揭示内部结构。冷冻蚀刻是一个后续步骤，在真空下表面冰升华以揭示更多细节。在这些技术中，喷镀金属或碳使样品能够直接在冷冻扫描电子显微镜（SEM）中成像，或作为复制膜在透射电子显微镜（TEM）中成像。这对技术用于研究细胞器、膜、层和乳液，特别适用…

EM TIC 3X进行离子束刻蚀简介

在这篇文章中，您可以了解到如何通过使用EM TIC 3X离子束研磨仪的离子束蚀刻工艺来优化样品的制备质量。文中简介了EM TIC 3X仪器特性，以此解释如何灵活地将该设备应用于各类研究领域的样本制备工作中。本文将帮助读者了解离子束刻蚀工艺的基本原理，及其如何在各种应用中获得高分辨率的SEM图像。本文也将介绍EM TIC…

钢材微结构的目视和化学分析：快速评定钢质量

本文介绍了使用结合光学显微镜和激光诱导击穿光谱仪（LIBS）的二合一解决方案对钢材非金属夹杂物（NMI）进行同步视觉和化学分析的方法。钢是一种在多行业广泛应用的材料。典型的应用领域包括交通（汽车、航空和铁路）、建筑和船舶建造以及能源（油气管道）。在部分高要求应用中，使用创新钢合金以及钢材回收再利用的普及度正在不断上升。钢材的质量主要取决于其成分和微结构（夹杂物、晶粒、沉淀物和其它相）。国际、区域和…