Leica Microsystems: 显微镜科学与教学知识中心

显微镜科学与教学知识中心

徕卡显微系统的知识库提供有关显微镜学科的科学研究和教学材料。内容旨在对显微镜初学者、有经验的显微镜操作实践者和使用显微镜的科学家在他们的日常工作和实验有所帮助。这里有探索交互式教程和应用笔记，你可以找到你需要的显微镜的基础知识以及前沿技术——快来加入徕卡显微知识社区，分享您的专业知识！

[Translate to chinese:] Particles and fibers on a filter which will be counted and analyzed for cleanliness

高效颗粒计数和分析

本报告介绍了使用光学显微镜对零部件的清洁度进行颗粒计数和分析的方法。颗粒计数和分析对汽车和电子行业的质量保证非常重要。颗粒污染可能会导致零部件退化或失效。清洁度分析能快速确定颗粒的大小、类型以及造成损坏的概率。对于更高级的分析（如确定颗粒成分），则可以使用光学显微镜和激光诱导击穿光谱（LIBS）。

[Translate to chinese:] Particles which could be found during cleanliness analysis of parts and components.

汽车零部件的清洁度

本文讨论了ISO 16232标准和VDA 19指南，并简要总结了颗粒物分析方法。它们为汽车零部件在微粒污染方面的清洁度提供了重要标准。此类颗粒物会对产品性能和寿命产生影响。在清洁度分析中，可以使用自动光学显微镜方法来确定颗粒物类型、大小和造成损坏的可能性。有时，需要更多成分信息，才能准确找到潜在的损害和污染源。这时候就需要借助激光光谱（LIBS）或电子显微镜。

[Translate to chinese:] Printed Circuit Board (PCB)

进行微观尺度的元素分析

如果您从事电子元件分析工作，您熟悉将会面临的诸多挑战。无论您是识别金属颗粒还是检查产品真伪，快速、轻松地获取正确的信息都很重要。在本次网络研讨会中，Konstantin Kartaschew 博士将解释如何使用化学微量分析仪 LIBS 系统获取有关微结构化学成分组成的信息。

用显微镜观察结构——借助激光光谱了解结构成分

本报告介绍了使用光学显微镜和激光诱导击穿光谱(LIBS) 二合一材料分析解决方案进行同步视觉和化学检测的优势。报告还解释了二合一解决方案的基本工作原理，并将它与其它常用材料分析方法进行了对比，例如扫描电子显微镜…