Leica Microsystems: 显微镜科学与教学知识中心

显微镜科学与教学知识中心

徕卡显微系统的知识库提供有关显微镜学科的科学研究和教学材料。内容旨在对显微镜初学者、有经验的显微镜操作实践者和使用显微镜的科学家在他们的日常工作和实验有所帮助。这里有探索交互式教程和应用笔记，你可以找到你需要的显微镜的基础知识以及前沿技术——快来加入徕卡显微知识社区，分享您的专业知识！

[Translate to chinese:] Printed Circuit Board (PCB)

进行微观尺度的元素分析

如果您从事电子元件分析工作，您熟悉将会面临的诸多挑战。无论您是识别金属颗粒还是检查产品真伪，快速、轻松地获取正确的信息都很重要。在本次网络研讨会中，Konstantin Kartaschew 博士将解释如何使用化学微量分析仪 LIBS 系统获取有关微结构化学成分组成的信息。

评定您的钢材质量：免费在线研讨会及报告

此在线研讨会与报告阐述了钢材质量评定中非金属夹杂物的最佳显微镜解决方案，同时回顾了有关严格质量评估方法的各种国际和地区标准，如EN 10247、ASTM E45、DIN 50602和ISO 4967。优良的钢材质量对于各种行业和应用至关重要，尤其是对于车辆和船舶的制造以及建筑物的建造。可靠、准确的非金属夹杂物评价方法是确定其对钢材质量影响的关键。LAS（徕卡应用程序套件）X Steel…

用显微镜观察结构——借助激光光谱了解结构成分

本报告介绍了使用光学显微镜和激光诱导击穿光谱(LIBS) 二合一材料分析解决方案进行同步视觉和化学检测的优势。报告还解释了二合一解决方案的基本工作原理，并将它与其它常用材料分析方法进行了对比，例如扫描电子显微镜…

无像差显微镜光学组件的互动优化

光学显微镜旨在放大肉眼不可见的物体。为此需要采用高品质光学器件来获得优秀的分辨率。但是，所有光学组件都会对光路中的光线带来负面的影响，最终导致像差。本文将重点介绍此过程中涉及的光学元件及其物理参数。在此基础上，本文对减少像差的方法原理进行了一次历史概述。结果表明，将显微镜看作一个整体系统有助于协调其各个组件并获得最佳微观结果。

无限远光学系统

“无限远光学”这一概念是指在显微镜的物镜和镜筒透镜之间具有平行光线的光束路径。平面光学元件可以进入到这个“无限远空间”中，而不影响成像，这对于利用DIC或荧光等对比度方法至关重要。现代显微技术需要在无限远光路中添加多种光学仪器，如光源或激光装置。满足这一需求的不同方法已经出现，本文对其进行了描述。