Leica Microsystems: 显微镜科学与教学知识中心

显微镜科学与教学知识中心

徕卡显微系统的知识库提供有关显微镜学科的科学研究和教学材料。内容旨在对显微镜初学者、有经验的显微镜操作实践者和使用显微镜的科学家在他们的日常工作和实验有所帮助。这里有探索交互式教程和应用笔记，你可以找到你需要的显微镜的基础知识以及前沿技术——快来加入徕卡显微知识社区，分享您的专业知识！

通过自动切片改善您的超薄切片工作流程

在不断发展的电镜样品制备领域，保持领先地位至关重要。这个网络研讨会提供了关于超薄切片最新进展的重要见解，这些进展可以显著增强您实验室的能力。

[Translate to chinese:] Camera image during auto alignment. The feedback lines indicate if the correct edges in the image are detected. Green: Vertical center line; Magenta: Upper edge of the light gap; White: Lower edge of the light gap (not visible here, falling together with red line); Red: Knife edge; Blue: Left and right edge of the block face being automatically detected.

高质量超薄切片：样品与切片刀自动对齐

超薄切片技术是获取样品切片的最常用方法。在室温条件制备时，将样品小块嵌入环氧树脂中，然后通过修剪去除多余的树脂，并使用玻璃刀或金刚石刀将样品切成厚度为50-100纳米之间的薄片。

[Translate to chinese:] Section ribbons with increasing section thickness - silver to purple ending in blue sections.

超薄获得高质量的超薄切片

UC Enuity能够应对这一挑战，提供厚度一致且高质量的切片。其用户友好的设计不仅简化了研究过程，还提高了可重复性，使研究者对所得到的结论更有信心。

[Translate to chinese:] Acrylonitrile butadiene styrene (ABS) stained with osmium tetroxide (OsO4), sectioned with a DIATOME diamond knife at room temperature, and then imaged with HAADF TEM.

用于材料切片的超薄切片技术

了解这些用于材料切片的超薄切片技术的宝贵见解，并学习如何克服在处理聚合物、金属和脆性材料时遇到的挑战。千万不要错过这个提高您对先进显微镜样品制备方法的认识的机会。

对样本开展研究时，为了以纳米级分辨率显示其精细结构，通常会使用到电子显微镜。电子显微镜有两种类型：扫描电子显微镜（SEM）用于对样本表面成像，以及需要使用极薄电子透明样本的透射电子显微镜（TEM）。因此，使用电子显微镜对样本内部的精细结构进行成像时，此类技术解决方案需要制作出非常薄的样本切片。被称为超显微技术的样本制备方法可以产生具有最小伪影的超薄切片（厚度20-150nm）。在切片过程中，样本的…

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通过自动切片改善您的超薄切片工作流程

高质量超薄切片：样品与切片刀自动对齐

超薄获得高质量的超薄切片

用于材料切片的超薄切片技术

超薄切片介绍