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![[Translate to chinese:] Particles observed on the surface of a particle trap which could be used for technical cleanliness during battery production.](/fileadmin/_processed_/4/9/csm_Particles_on_the_surface_of_a_particle_trap_f9cc42e4fc.jpg "[Translate to chinese:] Particles observed on the surface of a particle trap which could be used for technical cleanliness during battery production.")
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![[Translate to chinese:] Preparation of an IC-chip cross section: grinding and polishing of the chip cross section.](/fileadmin/_processed_/3/b/csm_Grinding_polishing_EM_TXP_81f93bc20c.jpg "[Translate to chinese:] Preparation of an IC-chip cross section: grinding and polishing of the chip cross section.")
电子产品制造截面分析
本文将讨论印刷电路板 (PCB) 和总成 (PCBA)、集成电路 (IC) 和电池组件的横截面为什么对质量控制 (QC)、故障分析 (FA) 和研发 (R&D) 有效，以及如何制备这些横截面。
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![[Translate to chinese:] Image of an integrated-circuit (IC) chip cross section acquired at higher magnification showing a region of interest.](/fileadmin/_processed_/a/c/csm_IC_chip_cross_section_c413bcc998.jpg "[Translate to chinese:] Image of an integrated-circuit (IC) chip cross section acquired at higher magnification showing a region of interest.")
横截面切片法分析IC芯片的结构与化学成分
从本文中了解如何通过横截面分析法对集成电路 (IC) 芯片等电子元件进行有效的结构和元素分析。探索如何通过研磨系统进行铣削、锯切、磨削和抛光工艺以及用于同时进行目视检测和化学分析的二合一解决方案来完成的。可针对电子行业的各种工作流程和应用实现快速、详细的材料分析，包括竞争分析、质量控制 (QC)、故障分析 (FA) 以及研发 (R&D)。
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![[Translate to chinese:] The various solutions from Leica Microsystems for cleanliness analysis.](/fileadmin/_processed_/e/c/csm_Particles_metal_cleanliness_bc69c4735a.jpg)
选择清洁度分析解决方案需考虑的因素
正确的清洁度分析解决方案对质量控制至关重要。本文介绍了选择适合自身需求的解决方案时应考虑的一些重要因素。这些因素取决于不同的方面，例如：（微电子或汽车）行业，污染物类型、尺寸、成分、材料属性和可能造成的损害等。从基本的清洁度验证到更复杂的分析，有多种基于显微镜和激光光谱的清洁度解决方案可供选择。
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![[Translate to chinese:] Particles and fibers on a filter which will be counted and analyzed for cleanliness](/fileadmin/_processed_/8/7/csm_Particles_and_fibers_on_a_filter_5ecd4bf7cc.jpg "[Translate to chinese:] Particles and fibers on a filter which will be counted and analyzed for cleanliness")
高效颗粒计数和分析
本报告介绍了使用光学显微镜对零部件的清洁度进行颗粒计数和分析的方法。颗粒计数和分析对汽车和电子行业的质量保证非常重要。颗粒污染可能会导致零部件退化或失效。清洁度分析能快速确定颗粒的大小、类型以及造成损坏的概率。对于更高级的分析（如确定颗粒成分），则可以使用光学显微镜和激光诱导击穿光谱（LIBS）。
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![[Translate to chinese:] A stack of lithium-ion batteries](/fileadmin/_processed_/7/3/csm_AdobeStock_136112421_cmyk_edited_d1c972ad75.jpg "[Translate to chinese:] A stack of lithium-ion batteries")
显微镜下的质量控制
电动汽车需求的快速增长是推动市场发展的重要因素，但不是唯一因素，其他因素包括可再生能源装置日益普及（如光伏板），各种医疗设备广泛采用锂离子电池，以及便携式消费电子产品的市场逐步扩大。
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![[Translate to chinese:] Particles which could be found during cleanliness analysis of parts and components.](/fileadmin/_processed_/8/f/csm_Particles_found_during_cleanliness_analysis_9909ee7c63.jpg "[Translate to chinese:] Particles which could be found during cleanliness analysis of parts and components.")
汽车零部件的清洁度
本文讨论了ISO 16232标准和VDA 19指南，并简要总结了颗粒物分析方法。它们为汽车零部件在微粒污染方面的清洁度提供了重要标准。此类颗粒物会对产品性能和寿命产生影响。在清洁度分析中，可以使用自动光学显微镜方法来确定颗粒物类型、大小和造成损坏的可能性。有时，需要更多成分信息，才能准确找到潜在的损害和污染源。这时候就需要借助激光光谱（LIBS）或电子显微镜。
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控制药品中的微粒污染
本文阐述了如何使用光学显微镜和激光诱导击穿光谱（LIBS）相结合的二合一方法识别制药行业中的微粒污染物。药物和静脉注射溶液等药品的微粒污染可能会导致严重问题。为消除药品微粒污染，最重要的是能够快速、准确地识别污染，甚至能够快速找到污染源。激光诱导击穿光谱可以对材料进行快速的多元素分析。本文介绍的二合一方法可以同时提供目视检查（颜色和形状）和化学（成分）分析，可快速、可靠地识别非监管环境中的微粒污染…
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利用光学显微镜和激光光谱的2合1解决方案，对检测材料执行深度剖析和分层分析
除了同时进行视觉和化学检查外，结合了光学显微镜和激光诱导击穿光谱技术（LIBS）的2合1材料分析解决方案还可用于高效执行深度剖析。深度剖析可以成为整个材料分析工作流程的其中一环。本文讨论了用2合1解决方案对涂层材料进行快速深度剖析的方法。检测具有多层涂层，或散装材料内有多种成分的部件或零件时，深度剖析是非常有效的方法。印刷电路板（电子）上的涂层和车辆（汽车和运输）上的油漆和防腐蚀涂层就很适合进行深…
