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电子显微镜镀膜技术简要介绍
电子显微镜领域需要对样本进行镀膜处理才能改善样本的成像效果。在样本上形成一层金属导电层可抑制电荷聚积、减少热损伤,并改善SEM对样品拓扑结构检测所需的二次电子信号量。在x射线显微分析中,网格上支持膜,TEM观察复型样品中的背底支撑膜,涉及既对电子束透明但同时具备导电效果的精细碳膜。具体需要采用的镀膜技术取决于分辨率和应用。
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电子显微镜碳厚度
在电子显微镜样品镀膜时,石英晶振片可控制镀膜的厚度。这些晶振片一定的频率(新晶体时约为6兆赫)进行振荡。通过测量镀膜前和镀膜后的频率、镀膜材质比重和石英的几何位置,可以计算出应用厚度。