该技术涉及样本的制备,样本在电子显微镜载网上,然后迅速陷入液氮中冷冻,使样本玻璃化,防止冰晶形成。
为了进行高分辨率的冷冻断层扫描,成像的标本切片厚度不应大于300纳米。为了观察样本的“较厚”部分(如细胞体),必须将样本减薄。除了冷冻超薄切片技术外,使用专门或多模态的冷冻扫描电子显微镜进行聚焦离子束(FIB)研磨是一种首选方法。两个离子束窗口的定位应确保在感兴趣区域内形成厚度大约200纳米的薄冰片(薄片),以便进行冷冻电镜电子断层扫描。
现在可以用冷冻透射电子显微镜扫描制备的样本,然后必须进行数据重建过程,将二维图像重建为单一的三维模型。