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EM TXP 精研一体机

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[Translate to chinese:] Preparation of an IC-chip cross section: grinding and polishing of the chip cross section.

电子产品制造截面分析

本文将讨论印刷电路板 (PCB) 和总成 (PCBA)、集成电路 (IC) 和电池组件的横截面为什么对质量控制 (QC)、故障分析 (FA) 和研发 (R&D) 有效,以及如何制备这些横截面。
[Translate to chinese:] Image of an integrated-circuit (IC) chip cross section acquired at higher magnification showing a region of interest.

横截面切片法分析IC芯片的结构与化学成分

从本文中了解如何通过横截面分析法对集成电路 (IC) 芯片等电子元件进行有效的结构和元素分析。探索如何通过研磨系统进行铣削、锯切、磨削和抛光工艺以及用于同时进行目视检测和化学分析的二合一解决方案来完成的。可针对电子行业的各种工作流程和应用实现快速、详细的材料分析,包括竞争分析、质量控制 (QC)、故障分析 (FA) 以及研发 (R&D)。
EBSD grain size distribution of the cross section of a gold wire within a silicon matrix from inside a CPU (central processing unit of a computer). The grains are highlighted with arbitrary colors.

高质量EBSD样品制备

本文介绍了一种使用宽离子束研磨技术为“混合”晶体材料制备可靠且有效的EBSD(电子背散射衍射)样品的方法。该方法产生的横截面具有高质量表面,这对于EBSD分析至关重要。电子背散射衍射(EBSD)材料分析是通过扫描电子显微镜(SEM)进行的。制备混合材料(CPU或铝(Al)、金刚石和石墨(C)的复合材料)的横截面,使其具有适合EBSD分析的高质量表面,可能是一个挑战。
[Translate to chinese:] SEM image of the full Li-NMC electrode sample, showing the two porous layers and the metal film at the center of the structure.

电池组件的横截面离子束研磨(锂电池与铅酸电池栅板)

深入了解锂电池系统需要高质量的表面处理,以评估其内部结构和形态。然而,快速简单地制备原始横截面可能由于所涉及材料的性质和电池结构而变得困难。多数材料系统通常使用切割、包埋、研磨、抛光等纯机械方法制备横截面。在这种情况下,单纯的机械制备不足以对电池进行高分辨率的SEM分析。

材料科学样本制备方法的工作流程解决方案

本手册介绍并解释了材料科学样本制备最常用的样本制备方法的工作流程解决方案:
用于电池制造的显微镜解决方案

电池制造

电池制造在检测方面面临几个关键挑战。需要用于样品制备和显微镜目视和化学分析的解决方案。

应用的领域

钟表制造业用显微镜

对于钟表制造商以及在制表业中,高精度徕卡立体显微镜有助于手表的精密组装和可靠检验,从而成就高超品质和精湛工艺。

汽车 & 交通工业显微镜

徕卡希望成为您密不可分的合作伙伴,带给您成像解决方案,让您在竞争中保持前列地位。 徕卡智能成像解决方案可助您应对特殊应用,满足当前和未来的需要,让您专心致志进行创新。 您一定了解到消费者对于创新技术的需求与日俱增,因此必须在新型汽车中实施越来越多的创新技术。电动交通和导航的进步令出行变得更加方便。燃油效率和安全性也在不断提高。现代技术的通信和娱乐显著改变了人们对出行的态度。然而您会发现…

材料分析显微镜

材料分析需要显微镜解决方案,用于成像、测量和分析各种材料(例如金属合金、半导体、玻璃、陶瓷以及塑料和聚合物)的特征。无论是在质量控制、故障分析方面,还是在研发方面,这种材料分析显微镜均对不同的工业应用非常重要。

工业显微镜市场

最大限度地提高正常运行时间并有效地实现目标有助于您提升效益。徕卡显微镜解决方案可以让您深入了解微小)的样品细节,以及快速可靠地分析,记录和报告结果。徕卡微系统提供广泛的解决方案和专家支持,可以帮助您满足不同的应用需求。

电子器件横截面分析

可以通过电子器件横截面分析对印刷电路板(PCB)、组件(PCBA)和集成电路(IC)等部件的故障机制进行详细分析。

电子和半导体行业

对于电子和半导体,助力实现高效检测、横截面和清洁度分析以及PCB、晶圆、IC芯片和电池研发的整体解决方案至关重要。

电池制造

电池制造在检测方面面临几个关键挑战。需要用于样品制备和显微镜目视和化学分析的解决方案。
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