徕卡DM4 M & DM6 M
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徕卡DM4 M & DM6 M 正置材料显微镜
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![[Translate to chinese:] Image of magnetic steel taken with a 100x objective using Kerr microscopy. The magnetic domains in the grains appear in the image with lighter and darker patterns. A few domains are marked with red arrows. Courtesy of Florian Lang-Melzian, Robert Bosch GmbH, Germany.](/fileadmin/_processed_/1/8/csm_Magnetic_steel_100x_objective_Kerr_microscopy_06ead95143.jpg "[Translate to chinese:] Image of magnetic steel taken with a 100x objective using Kerr microscopy. The magnetic domains in the grains appear in the image with lighter and darker patterns. A few domains are marked with red arrows.")
使用克尔显微镜快速可视化钢中的磁畴
磁性材料中磁畴与偏振光相互作用后光的旋转，称为克尔效应，使得使用克尔显微镜对磁化样品进行研究成为可能。它可以快速可视化材料表面的磁域。对于用于电气和电子设备的磁性材料（例如钢合金）的高效研发和质量控制，克尔显微镜可以发挥重要作用。本文详细描述了如何使用克尔显微镜对钢合金晶粒中的磁域进行成像。
6英寸晶圆检测显微镜：可靠观察细微高度差异
本文介绍了一种配备自动化和可重复的DIC（微分干涉对比）成像的6英寸晶圆检测显微镜，无论用户的技能水平如何。制造集成电路（IC）芯片和半导体组件需要进行晶圆检测，以验证是否存在影响性能的缺陷。这种检测通常使用光学显微镜进行质量控制、故障分析和研发。为了有效地可视化晶圆上结构之间的小高度差异，可以使用DIC。
![[Translate to chinese:] Optical microscope image, which is a composition of both brightfield and fluorescence illumination, showing organic contamination on a wafer surface. The inset images in the upper left corner show the brightfield image (above) and fluorescence image (below with dark background).](/fileadmin/_processed_/a/1/csm_Organic_contamination_on_a_wafer_surface_6699165cee.jpg "[Translate to chinese:] Optical microscope image, which is a composition of both brightfield and fluorescence illumination, showing organic contamination on a wafer surface.")
晶圆上的光刻胶残留和有机污染物的可视化
随着半导体上集成电路（IC）的尺寸低于10纳米，在晶圆检测中有效检测光刻胶残留等有机污染物和缺陷变得越来越重要。光学显微镜仍然是常见的检测方法，但对于有机污染物，明场和其他类型的照明可能会存在局限性。本文讨论了荧光显微镜如何在半导体行业的QC、故障分析和研发过程中有效检测晶圆上的光刻胶残留和其他有机污染物。
![[Translate to chinese:] Particulate contamination in between moving metal plates.](/fileadmin/_processed_/b/d/csm_Particulate_contamination_in_between_moving_metal_plates_2_3571994896.jpg "[Translate to chinese:] Particulate contamination in between moving metal plates.")
高效清洁度分析的关键因素
在汽车和电子行业，零部件上细小的污染颗粒物也可能影响产品的性能，导致产品出现故障，或使用寿命缩短。对于汽车来说，过滤系统很容易受到影响。对于电子产品来说，印刷电路板（PCB）或连接器上的污染可能会导致短路。因此，清洁度在现代制造业的质量控制中占有核心地位，特别是使用由不同供应商生产的部件时，更要重点关注清洁情况。车辆或设备的关键部件如果受到污染，整个系统就可能发生故障。因此，高效清洁度分析过程必须…
![[Translate to chinese:] Image of an integrated-circuit (IC) chip cross section acquired at higher magnification showing a region of interest.](/fileadmin/_processed_/a/c/csm_IC_chip_cross_section_c413bcc998.jpg "[Translate to chinese:] Image of an integrated-circuit (IC) chip cross section acquired at higher magnification showing a region of interest.")
横截面切片法分析IC芯片的结构与化学成分
从本文中了解如何通过横截面分析法对集成电路 (IC) 芯片等电子元件进行有效的结构和元素分析。探索如何通过研磨系统进行铣削、锯切、磨削和抛光工艺以及用于同时进行目视检测和化学分析的二合一解决方案来完成的。可针对电子行业的各种工作流程和应用实现快速、详细的材料分析，包括竞争分析、质量控制 (QC)、故障分析 (FA) 以及研发 (R&D)。
![[Translate to chinese:] Neurons imaged with DIC contrast.](/fileadmin/_processed_/3/1/csm_Neurons_imaged_in_DIC_8186d00fbe.jpg "[Translate to chinese:] Neurons imaged with DIC contrast.")
微分干涉对比（DIC）显微镜
本文阐释了在使用显微镜对未染色透明生物样本进行成像时，微分干涉对比法（DIC）为何是明场照明的绝佳方案。
![[Translate to chinese:] The various solutions from Leica Microsystems for cleanliness analysis.](/fileadmin/_processed_/e/c/csm_Particles_metal_cleanliness_bc69c4735a.jpg)
选择清洁度分析解决方案需考虑的因素
正确的清洁度分析解决方案对质量控制至关重要。本文介绍了选择适合自身需求的解决方案时应考虑的一些重要因素。这些因素取决于不同的方面，例如：（微电子或汽车）行业，污染物类型、尺寸、成分、材料属性和可能造成的损害等。从基本的清洁度验证到更复杂的分析，有多种基于显微镜和激光光谱的清洁度解决方案可供选择。
![[Translate to chinese:] Particles and fibers on a filter which will be counted and analyzed for cleanliness](/fileadmin/_processed_/8/7/csm_Particles_and_fibers_on_a_filter_5ecd4bf7cc.jpg "[Translate to chinese:] Particles and fibers on a filter which will be counted and analyzed for cleanliness")
高效颗粒计数和分析
本报告介绍了使用光学显微镜对零部件的清洁度进行颗粒计数和分析的方法。颗粒计数和分析对汽车和电子行业的质量保证非常重要。颗粒污染可能会导致零部件退化或失效。清洁度分析能快速确定颗粒的大小、类型以及造成损坏的概率。对于更高级的分析（如确定颗粒成分），则可以使用光学显微镜和激光诱导击穿光谱（LIBS）。
![[Translate to chinese:] A stack of lithium-ion batteries](/fileadmin/_processed_/7/3/csm_AdobeStock_136112421_cmyk_edited_d1c972ad75.jpg "[Translate to chinese:] A stack of lithium-ion batteries")
显微镜下的质量控制
电动汽车需求的快速增长是推动市场发展的重要因素，但不是唯一因素，其他因素包括可再生能源装置日益普及（如光伏板），各种医疗设备广泛采用锂离子电池，以及便携式消费电子产品的市场逐步扩大。
![[Translate to chinese:] Particles which could be found during cleanliness analysis of parts and components.](/fileadmin/_processed_/8/f/csm_Particles_found_during_cleanliness_analysis_9909ee7c63.jpg "[Translate to chinese:] Particles which could be found during cleanliness analysis of parts and components.")
汽车零部件的清洁度
本文讨论了ISO 16232标准和VDA 19指南，并简要总结了颗粒物分析方法。它们为汽车零部件在微粒污染方面的清洁度提供了重要标准。此类颗粒物会对产品性能和寿命产生影响。在清洁度分析中，可以使用自动光学显微镜方法来确定颗粒物类型、大小和造成损坏的可能性。有时，需要更多成分信息，才能准确找到潜在的损害和污染源。这时候就需要借助激光光谱（LIBS）或电子显微镜。
荧光显微镜如何为工业应用带来益处
观看这个免费的网络研讨会，了解更多关于荧光显微镜在工业应用中的用途。我们将涵盖一系列调查研究，在这些研究中，荧光对比度为样本属性提供了新的见解，例如纤维、文件、涂料、建筑材料、电子产品和食品的属性。您将看到使用荧光有多么简单，同时还将了解样本制备和潜在局限性。
钢材质量评估过程中人工评级非金属夹杂物（NMI）的挑战
快速、精确和可靠的非金属夹杂物（NMI）评级对钢材质量评估具有重要作用。在钢铁生产和组件制造过程中，非金属夹杂物（NMI）人工评级是一种常用的方法.
为什么对快速、可靠的钢材质量评级解决方案的需求日益增长
钢材质量对生产高品质组件和产品至关重要。快速、可靠、精确的夹杂物检测与分级工作，对零部件供应商和终端产品制造商的重要性也在与日俱增。他们需要满足生产和制造过程中各个环节对钢材质量标准的要求。供应商和制造商对快速、可靠的钢材质量评级解决方案的需求一直在持续增长，本文揭示了变化背后的原因。
用于晶粒度分析的倒置显微镜：需要考虑的三个因素
微观钢材颗粒尺寸分析有助于确定特定用途（如建造桥梁与铁路轨道）下钢合金的质量。本次网络研讨会将介绍样本的制备、样本的显微镜检测以及使用国际标准对样本的分析。
钢材中非金属夹杂物评级标准相关的常见问题
向全球用户供应单批次钢材组件和产品时，产品需满足多种钢材质量标准。这些用户需求成为了摆在供应商面前的一道难题。由于夹杂物对钢材质量有显著影响，各种标准都对非金属夹杂物评级规定了严格的评级方法。钢材质量评级有助于确保产品和组件满足不同的性能和安全规格要求。然而，由于国际、区域和组织性的标准繁多，而且这些标准还会不断更新变化，因此单批次钢材组件/产品要满足多种钢材质量标准的要求是一项难度不小的挑战。为…
评定您的钢材质量：免费在线研讨会及报告
此在线研讨会与报告阐述了钢材质量评定中非金属夹杂物的最佳显微镜解决方案，同时回顾了有关严格质量评估方法的各种国际和地区标准，如EN 10247、ASTM E45、DIN 50602和ISO 4967。优良的钢材质量对于各种行业和应用至关重要，尤其是对于车辆和船舶的制造以及建筑物的建造。可靠、准确的非金属夹杂物评价方法是确定其对钢材质量影响的关键。LAS（徕卡应用程序套件）X Steel…
金相学 – 介绍
本文概述了金相学和金属合金的特征分析。合金微观结构的研究使用到不同的显微观察技术，即晶粒、相、夹杂物等的微观结构。金相学是从了解合金微观组织对宏观性能影响发展而来的一门学科。所获得的知识可用于合金材料的设计、开发和制造。
如何使金属合金的粒度分析符合您的需求
金属合金（如钢和铝）在汽车、运输等行业中都有重要作用。本报告回顾了粒度分析对合金表征的重要性，以及便于用户操作和分析图像的显微镜解决方案，这种方案会用到高性能软件，整体实用性高、灵活性强。
![[Translate to chinese:] Extended Depth of Focus (EDOF) images](/fileadmin/_processed_/5/8/csm_How_to_create_EDOF_images_intro_d6c28929e2.jpg "[Translate to chinese:] Extended Depth of Focus (EDOF) images")
如何创建EDOF（扩展景深）图像
观看此视频，了解如何使用徕卡显微系统LAS X软件的可选扩展景深（EDOF）功能，快速记录具有较大高度变化样本的清晰光学显微镜图像。以使用徕卡显微镜从低倍到高倍拍摄的电路板EDOF图像为例进行了展示。
用显微镜观察结构——借助激光光谱了解结构成分
本报告介绍了使用光学显微镜和激光诱导击穿光谱(LIBS) 二合一材料分析解决方案进行同步视觉和化学检测的优势。报告还解释了二合一解决方案的基本工作原理，并将它与其它常用材料分析方法进行了对比，例如扫描电子显微镜…
金相学
徕卡金相显微镜针对金属、合金及其他材料的微观结构分析进行了优化。
电池制造
电池制造在检测方面面临几个关键挑战。需要用于样品制备和显微镜目视和化学分析的解决方案。
应用的领域
汽车 & 交通工业显微镜
徕卡希望成为您密不可分的合作伙伴，带给您成像解决方案，让您在竞争中保持前列地位。
徕卡智能成像解决方案可助您应对特殊应用，满足当前和未来的需要，让您专心致志进行创新。
您一定了解到消费者对于创新技术的需求与日俱增，因此必须在新型汽车中实施越来越多的创新技术。电动交通和导航的进步令出行变得更加方便。燃油效率和安全性也在不断提高。现代技术的通信和娱乐显著改变了人们对出行的态度。然而您会发现…
钢材质量评定
提高非金属夹杂物评定效率 有助于钢材供应商和工业制造商在更短的时间内检验钢材质量，确保钢材性能可靠、使用寿命长久。 日益严格的相关规范和标准要求人们必须严格按照国际、地区和行业组织的钢材标准评定非金属夹杂物。
公检法取证
作为一名法医科学家，显微镜和成像设备必须准确、优质、正确和可重复的结果，确保成功地检验证据。徕卡显微系统支持量化、分析和记录结果，从日常实验室到完整的自动化系统，提供各种法医显微镜解决方案。
金相学
徕卡金相显微镜针对金属、合金及其他材料的微观结构分析进行了优化。
技术清洁度
For industrial and electronics manufacturers as well as non-regulated pharma applications, solutions for an efficient technical cleanliness offer significant advantages.
材料分析显微镜
材料分析需要显微镜解决方案，用于成像、测量和分析各种材料（例如金属合金、半导体、玻璃、陶瓷以及塑料和聚合物）的特征。无论是在质量控制、故障分析方面，还是在研发方面，这种材料分析显微镜均对不同的工业应用非常重要。
工业显微镜市场
最大限度地提高正常运行时间并有效地实现目标有助于您提升效益。徕卡显微镜解决方案可以让您深入了解微小)的样品细节，以及快速可靠地分析，记录和报告结果。徕卡微系统提供广泛的解决方案和专家支持，可以帮助您满足不同的应用需求。
金属行业
徕卡金属行业显微镜解决方案适用于评估材料质量，并确保符合相关标准。
电池制造
电池制造在检测方面面临几个关键挑战。需要用于样品制备和显微镜目视和化学分析的解决方案。
