TCS SMD FLIM 荧光寿命成像

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Leica TCS SMD FLIM系统属于Leica TCS SMD系列。

该系统专门用于荧光寿命测量，在纳米水平反映分子的局部环境信息。

局部环境条件可决定分子的折叠状态，从而影响分子的反应性。FLIM (Fluorescence Lifetime Imaging，荧光寿命成像)也可用于分子结合研究 (FLIM-FRET)，识别生理条件下的自然代谢产物。

SMD FLIM实验向导优化FLIM的测量条件，可进行时间序列或三维FLIM测量。

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