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评估
在进行既麻烦又费钱的详细定量化学分析之前，先对横截面进行定性成分评估，了解您拥有的矿物样本。
分析
对样本进行定量评估，以确定纯度、非金属夹杂物、颗粒大小、物相和微观结构成分。详情
检查
在生产和测试过程中检查金属与合金，以保证质量和进行失效分析。
记录
记录任务的每个步骤（包括测量和标注），以确认金属与合金能符合客户要求及法规事务相关的质量标准。
电子元件回收
如果您对重复利用电子元件感兴趣，则需要更深入了解所用材料。徕卡提供的二合一解决方案将光学显微成像与激光诱导击穿光谱技术(LIBS)相结合，可以同时实现目视检查和定性化学分析。
当微观结构中检测出特定的物相或夹杂物时，也可使用此系统作进一步分析。
图像采集和分析
使用显微镜进行图像采集和分析时，摄像头和软件是必不可少的。金属行业执行的许多任务都需要进行定量分析。软件模块可以自动识别物相、测量颗粒大小和计算夹杂物数量，从而提高了该分析要求的效率。
理想的摄像头可确保图像呈现相关的细节，这些细节应通过软件进行分析。有多种显微镜摄像头可供选择，因此，各种成像任务可选择合适的显微镜解决方案完美执行。
金属行业常见问题解答
根据任务的不同，正确的样品制备对于揭示和评估金属的微观结构至关重要，尤其是对于定量分析。 为了能够看到重要的细节，例如晶粒、相等，显微镜解决方案的相关性能表现也是需要考虑的。
金相显微镜针对金属和合金的微观结构成像进行了优化。可以使用各种不同的照明和对比度方法对样品进行定量分析。有关更多信息，请参阅以下文章： 利用色彩和对比度进行金相分析 和 金相术 - 简介
对于常规样品观察，DM2700 M正置材料显微镜是一个不错的选择。它提供LED照明和多种对比度方法，可以清晰地观察样品微观结构。
如果样品通量必须很高，那么选择DM4 M或DM6 M正置材料显微镜将帮助您高效工作。 它还会让您高枕无忧，因为只需按一下按钮即可保存和调用所有设置。
倒置显微镜，如DMi8 A / C / M, 为用户提供了更大的灵活性，并且比正置显微镜更容易使用。阅读显微科学知识库里的相关文章，了解倒置显微镜在金相学方面的优势： 工业应用中倒置显微镜相较于正置显微镜的五大优势
![[Translate to chinese:] Image of magnetic steel taken with a 100x objective using Kerr microscopy. The magnetic domains in the grains appear in the image with lighter and darker patterns. A few domains are marked with red arrows. Courtesy of Florian Lang-Melzian, Robert Bosch GmbH, Germany.](/fileadmin/_processed_/1/8/csm_Magnetic_steel_100x_objective_Kerr_microscopy_06ead95143.jpg "[Translate to chinese:] Image of magnetic steel taken with a 100x objective using Kerr microscopy. The magnetic domains in the grains appear in the image with lighter and darker patterns. A few domains are marked with red arrows.")
![[Translate to chinese:] Particles observed on the surface of a particle trap which could be used for technical cleanliness during battery production.](/fileadmin/_processed_/4/9/csm_Particles_on_the_surface_of_a_particle_trap_f9cc42e4fc.jpg "[Translate to chinese:] Particles observed on the surface of a particle trap which could be used for technical cleanliness during battery production.")
![[Translate to chinese:] Particulate contamination in between moving metal plates.](/fileadmin/_processed_/b/d/csm_Particulate_contamination_in_between_moving_metal_plates_2_3571994896.jpg "[Translate to chinese:] Particulate contamination in between moving metal plates.")
![[Translate to chinese:] Preparation of an IC-chip cross section: grinding and polishing of the chip cross section.](/fileadmin/_processed_/3/b/csm_Grinding_polishing_EM_TXP_81f93bc20c.jpg "[Translate to chinese:] Preparation of an IC-chip cross section: grinding and polishing of the chip cross section.")
![[Translate to chinese:] Material sample with a large height, size, and weight being observed with an inverted microscope.](/fileadmin/_processed_/f/4/csm_Inverted_microscope_with_large_sample_crop_9ca60cecc7.jpg "[Translate to chinese:] Material sample with a large height, size, and weight being observed with an inverted microscope.")
![[Translate to chinese:] Image of an integrated-circuit (IC) chip cross section acquired at higher magnification showing a region of interest.](/fileadmin/_processed_/a/c/csm_IC_chip_cross_section_c413bcc998.jpg "[Translate to chinese:] Image of an integrated-circuit (IC) chip cross section acquired at higher magnification showing a region of interest.")
